日本 MTI MRI室变动磁场抵消设备日本MTI MRIC-300为MRI室专用三轴有源磁场抵消装置，实时监测并抵消XYZ三轴动态磁场干扰，有效解决电梯、轨道交通、电力设备引发的成像伪影、画面抖动问题。采用亥姆霍兹线圈结构，磁场梯度稳定，适配新旧医用、科研MRI机房，可全天候稳压降噪，大幅提升MRI成像质量与设备运行稳定性。

日本 MTI 工地未爆弹水下管线磁探测仪器MTI MES-4700S 差分磁通门磁探系统，双三轴探头差分消除地磁干扰，30nT 高分辨捕捉地下微弱铁磁信号；钛合金耐压探头支持钻井、海水水下探测，用于建筑工地未爆弹排查、地下钢板桩、水下管线勘查；主机实时三轴数值显示，配套采集软件记录磁场趋势数据，工程勘探、排爆检测专用磁勘查设备。

日本 MTI 电子罗盘传感器校准设备MTI EMS-100 三轴地磁模拟亥姆霍兹系统，可抵消外界杂散磁场，在线圈均匀空间生成任意矢量地磁；三轴 X/Y/Z 独立调控，最大 150μT，100mm 立方均匀测试区域，触控屏直观设置磁场强度、方位、俯仰角度，是航空、车载电子罗盘、方位传感器出厂校准、性能验证专用标准磁场发生设备。

日本 ONOSOKKI 小野 电容式非接触厚度仪日本 ONOSOKKI CL-5610 系列电容式非接触厚度计，搭配 VE 系列电容传感器，可无损测量导体、半导体，选配功能后支持塑料薄膜、玻璃等绝缘体测厚；双通道输入，采样速度 20ms，具备 RS232、BCD 输出；CL-5610S 放大器外置，适合产线设备集成

日本 EWIG 激光全息超高精度接触式测厚仪日本 EWIG EH-3000 采用双激光全息标尺，接触式双面夹持测量，最小显示 0.01μm。测量范围数十 μm~8mm，重复精度 ±0.05μm 以内；适配晶圆、玻璃、金属、薄膜、塑料试样，搭载 RS-232C 数据通讯接口，支持测量数据外接电脑采集，可定制自动化工作台。

日本 YAMABUN 非接触干涉透明多薄膜测厚仪日本 YAMABUN TOF-S 台式离线分光干涉式厚度测量仪，采用光纤分光干涉光学原理，非接触无损检测透明平滑薄膜、多层涂层。最高0.001μm显示分辨率，可单侧反射式测量，不易受温度波动干扰；区分薄物 / 厚物双量程，适配电子光学基材，支持离线实验室检测，也可定制为生产线在线机型。

日本 YAMABUN 非接触电容粘性保护膜测厚仪日本 YAMABUN TOF-C2 台式离线电容式厚度测量仪，采用静电容量非接触检测原理，不会划伤、挤压试样，适配接触式难以测量的柔软、带粘性薄膜。量程最高 500μm，分辨率 0.01μm，支持克重换算，搭载自动介电常数设定功能；表面粗糙薄膜亦可稳定检测，是保护膜、软性基材理想离线检测设备。

日本 YAMABUN 高精度 PI 光学薄膜测厚仪日本 YAMABUN TOF-6R001 台式离线接触式厚度测量仪，面向聚酰亚胺、光学薄膜等超高精度基材。量程 5~100μm，业界顶尖 0.01μm 显示分辨率，支持 0.1mm 极小采样间距；双档位轻测量压力可选，自动移送消除人为误差，测量数据自动存储，适配薄膜研发与严苛品质管控。