日本EMIC 新型高斯计磁性测量仪器日本 EMIC GM-6006/GM-6001 是高功能、高分辨率高斯计，采用 24 位 A/D 转换器，支持 DC/AC 磁场测量，配备波形显示、温度补偿、自动校准及远程控制功能，适用于工业磁场检测与实验室测量场景。

日本EMIC 小型输送带式贯通型退磁设备日本 EMIC 输送带式贯通型退磁器，适配普通及特殊钢材，支持手动到自动多种模式，采用三相 AC200V 供电，适用于轴承等零部件生产线退磁作业，可广泛应对不同工件的消磁需求。

EMIC Magna-Ace 单相半波式磁化电源设备日本 EMIC EB 系列单相半波式磁化电源，采用 SCR 相位控制，体积小巧、重量轻，EB-3030 输出 3000A、EB-4A 输出 4000A、EB-5A 输出 5000A，适配磁粉探伤设备，支持无触点无级电流调节，广泛用于工业无损检测。

EMIC Handy Unimag 便携式磁粉探伤仪器日本 EMIC Um 系列便携式磁粉探伤仪，轭式设计，Um-3BK 起磁力 3000AT 以上、Um-5BK 起磁力 4000AT 以上，支持 AC100V 供电，重量轻，适配复杂形状工件探伤，广泛用于机械、航空领域缺陷检测。

日本ベテル ハドソン 纤维取向评估设备日本ベテル ハドソン TEFOD 纤维取向评估系统，采用激光加热与红外测温技术，无需 X 射线即可快速测量复合材料的纤维取向与热扩散率，单点测试仅需 60 秒，结果以极坐标图呈现，适用于碳纤维增强材料的质量管控与研发。

日本ベテル ハドソン 定常热导率测定设备日本ベテル ハドソン稳态法热导率测量装置，基于稳态热流法原理，可测量 0.05~40 W/mK 材料的垂直方向热导率，支持恒定负荷 / 厚度双模式，10~20 分钟完成单点测试，适用于导热材料与隔热材料的研发与质量管控。

日本ベテル ハドソン 热物性显微镜设备日本ベテル ハドソン TM3 热物性显微镜，采用激光热反射法，以 3μm 光斑实现微区热渗透率测量，支持薄膜、多层膜及块状材料的点 / 线 / 面分布测试，可检测内部缺陷，是材料热性能研发与质量管控的专用设备。

日本ベテル ハドソン 热扩散成像检查设备日本ベテル ハドソン TSI-2 热成像仪，采用激光加热与红外成像技术，可通过热可视化评估样品内部空隙、裂纹与界面密合性，支持热特性与缺陷分析，是材料热性能与无损检测的高效工具。