日本 Takano 高野 导电薄膜视觉检查仪器日本 Takano 高野 HAWKEYES PATTERN 卷对卷图案薄膜检测设备，自研 5μm 高精度成像相机，10m/min 稳定检测 30μm 精细线路；内置偏移补偿算法，可识别短路、断线、针孔、凸起异物等图案缺陷，兼容触摸屏、FPC、MLCC 卷材与单片试样，满足电子图案薄膜量产全流程品质管控。

日本 Takano 高野 偏光膜在线瑕疵扫描仪器日本 Takano 高野 HAWKEYES ONE 超高速薄膜外观检测装置，自研线阵相机最高 200m/min 产线适配，5μm 微米级精度识别针孔、姆拉、条纹、气泡等涂布缺陷；搭载 AI 自动分类算法，配套完整缺陷数据追溯软件，适配光学、锂电、电子各类卷材薄膜，实现高速产线全幅品质自动化管控。

日本 KATO KOKEN 无尘车间粉尘分析仪器日本 KATO KOKEN Apex AP-Yellow 黄色荧光微粒可视化成套系统，支持片光 / 点光双照射，可观测 1μm 级洁净室悬浮微粒；低激光安全管控负担，搭配 500 万像素 75 帧高速相机与专业分析软件，实现粒子轨迹可视化、实时计数与数据导出，广泛用于汽车涂装、半导体车间尘源排查与工艺改善。

日本 KATO KOKEN 弧焊保护气可视化检测仪器日本 KATO KOKEN Shield View 焊接保护气体可视化系统，专用光路抵消焊接强光，搭配高速相机捕捉屏蔽气流、烟尘、飞溅；配套 PIV 流体分析软件量化气流矢量与烟尘数据，用于优化气体流量、焊炬角度、焊接速度，同时评估车间烟尘防护，广泛用于新能源、汽车焊接工艺研发与量产质控。

日本 KATO KOKEN 工业过程观测高速摄像仪器日本 KATO KOKEN flux k-240 工业高速相机，131 万像素最高 40000fps，单色 / 彩色可选；搭载位移增感 CMOS 传感器，USB3.0 即插即用，标配 6GB 内存。可捕捉焊接、冲击、流体等瞬态过程，配套简易控制软件，兼顾科研实验室与工业产线高速可视化检测，具备高性价比。

日本 KATO KOKEN 连续绿光片光激光器日本 KATO KOKEN G 系列 532nm DPSS 绿光 PIV 片状激光器，50mW 至 4W 多功率可选，连续波稳定片光输出，低损耗均匀光路。紧凑型激光头适配三脚架安装，宽电压液晶驱动电源，标配多重激光安全装置，广泛用于气流、液体流场 PIV 粒子测速与流体可视化实验。

日本 KATO KOKEN 半导体片光激光仪器日本 KATO KOKEN KLD 系列 638nm 红光 PIV 片状激光器，分 3W/5W/10W 三功率型号，分体式风冷设计，双角度片光光学头。红光提升相机感光灵敏度，无频闪连续输出，密封防尘长寿命，配套完整安全联锁，广泛用于气流、液体流场 PIV 粒子测速与流体可视化实验。

日本 Luceo 光学晶体玻璃条纹缺陷检测仪日本 Luceo LSC-5100 脉理检查装置，采用阴影绘图法，搭配 450~465nm 高亮蓝光 LED，可视化晶体、玻璃、液晶板内部脉理与研磨缺陷。φ45mm 观测范围，高清成像无级调光，支持卧式 / 立式两种安装形态，适配滤光片、光学基板、液晶元件出厂品质检测。