日本 ARM SYSTEM 三目变倍体视显微镜仪器日本 ARM SYSTEM AR-Z81TR-PSN 是一款三目变倍体视显微镜，搭载格里诺光学系统，实现 6.5~53X 连续变倍，变倍比 8.1，视场数 24，支持外接成像设备，工作距离 100mm，适合工业质检、电子维修与科研观察场景。

日本 ARM SYSTEM 单目偏光显微镜仪器日本 ARM SYSTEM AR-BPOL 是一款单目偏光显微镜，专为矿物、晶体等各向异性材料的偏光观察设计，搭载 12V/20W 卤素照明与阿贝式聚光镜，支持 360° 旋转载物台和可取出式检偏器，结构紧凑，适合实验室教学与工业材料分析场景。

日本EMIC 广范围光学LED黑光灯日本 EMIC LB-409 是专为长尺寸工件设计的广范围 LED 黑光灯，采用无风扇静音设计，配备紫外线强度调节功能，照度可达 2000μW/cm² 以上，适配圆棒钢、管材等工件的磁粉探伤检测。

日本EMIC 高强度对应紫外线强度仪器日本 EMIC UV-D3紫外线强度计，专为黑光灯强度管理设计，适配 355~375nm 波长，测量范围 0~45mW/cm²，带峰值保持功能，数字显示清晰，采用 AA 电池供电，重量轻，适用于磁粉探伤场景的紫外强度检测。

日本EMIC 光学便携式LED黑光灯日本 EMIC LB-104 便携式 LED 黑光灯，专为磁粉探伤设计，采用 355~375nm 紫外 LED，功耗仅为传统产品的 1/7，中心强度高，可检测微小伤痕；支持 AC100-240V 供电，手持轻便，适配各类无损检测场景。

日本 TAITEC 便携式 简易 OD 监测仪器日本 TAITEC Miniphoto 620 为便携式数字比色计，搭载 620nm 固定波长 LED 光源，可实现微生物浊度、吸光度及透光率检测，仪器设计紧凑便携，适配实验室现场快速检测与数据记录场景。

Synos 宽带域温调高安定型 SLD 光源仪器日本 Synos LSS002/1310 是一款专为光互连领域设计的 1310nm 中心波长高稳定低相干 SLD 光源，采用温度调节技术实现高输出稳定性，适用于各类光器件与光模块的光学特性测量。

日本 Synos 宽视场扩展型测量光学仪器日本 Synos M-Scope type FSW 是一款宽视场扩展型 FFP（远场图案）测量光学系统，通过 f-θ 透镜光学系统与二维图像检测器结合，可实时测量大发光面积激光元件的光束辐射角度与数值孔径。