耐驰 OMEGA 系列 纳米级无介质分散乳化设备无介质分散乳化机，采用创新无介质工艺，可实现纳米级高效分散，适配高粘度物料处理。设备运行压力低、能耗小，不破坏物料原始粒子，广泛应用于电池材料、涂料、油墨、电子浆料等领域，稳定可靠，满足高精度分散与规模化生产需求。

Ashizawa 纳米研磨机 温和分散珠磨设备专为纳米粒子分散设计的珠磨机，采用温和分散技术，可抑制粒子损伤，同时实现高品质量产。通过控制珠子运动，应对多样物料，搭配独立驱动离心分离器保障稳定运行。适用于涂料、电池、半导体、化妆品等领域，满足大规模粉体分散需求，大幅降低能耗并保留粒子特性。

Labstar® 实验室珠磨设备LMZ06 是一款桌面级实验型珠磨机，专为微粉碎与纳米分散设计。它采用大流量循环运行模式，可适配 0.1~1.0mm 研磨珠，广泛应用于涂料、油墨、电池材料、电子元器件等领域，能高效实现物料精细化处理，实验数据可直接放大至 150L 生产级粉碎室，是研发与小试的理想设备。

芦泽 Labstar 实验室湿法微粉碎分散设备日本 Ashizawa Labstar® LME075 实验型珠磨机，是专为微粉碎分散设计的台式设备。采用间歇式运行，适配 0.1~1.0mm 珠径，可处理电池材料、颜料、陶瓷等多种物料，容量 0.75L，批量≥1.5L，能从小试平稳放大至大规模生产，是实验室研发与小批量试制的精密研磨优选。

日本富士工作 薄膜测试仪器 工业视频显微镜 FT-C100 是专为薄膜测试仪配套的图像检测单元，可轻松观察测定部位。设备具备 105mm 长工作距离与 0.28x~2.0x 光学倍率，搭配可调角度支架与环形光源，能清晰呈现薄膜厚度测量细节，广泛适用于化工、材料等领域的精密检测与品质管控。

日本 Fujiwork 富士 薄膜连续厚度测量设备 新款 FT-D210NL/FT-D210NLT 连续厚度测量机，无需导轨即可从薄膜边缘精准测厚。FT-D210NL 量程 20μm~500μm，FT-D210NLT 采用夹头式测量头，可测 500μm~3000μm 厚工件，测定分辨率达 0.1μm，适用于薄膜、电池隔膜等材料的高精度厚度检测，是工业品质管控的理想选择。

日本富士工作 高精度连续薄膜测厚仪器 FT-D200H 高精度连续薄膜测厚仪，搭载 0.01μm 超高分辨率，可精准测量 10μm~500μm 极薄薄膜。设备运行稳定，适用于塑料、电子、包装等行业的在线 / 离线厚度检测，助力企业把控产品品质、提升生产效率，是工业精密测量的理想选择。

日本 SHINKO SST系列螺杆真空泵设备 ，专为工业高真空场景设计，抽气速率覆盖 970~5000L/min，极限压力低至 0.6Pa，水冷结构稳定可靠。采用无油干式运行，适配半导体、镀膜、化工等领域，高效节能且维护简便，是精密制造与真空工艺的理想核心设备。