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日本 HORIBA 半导体压力质量流量控制器

日本 HORIBA 半导体压力质量流量控制器HORIBA STEC D700MG(D717MG)属于 CRITERION 系列压力非敏感型 MFC,D500MG 向上兼容机型,搭载压电阀,最快 100ms 调节响应;支持 EtherCAT 总线在线更改气体与满量程,配备 PFA 喷嘴、MRMG 小流量功能,内置状态监测,面向刻蚀、薄膜沉积等优良半导体制程。

  • 产品型号:D700MG
  • 厂商性质:经销商
  • 更新时间:2026-07-16
  • 访  问  量:12
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详细介绍

日本 HORIBA 半导体压力质量流量控制器 日本 HORIBA 半导体压力质量流量控制器

1. 产品概述

D700MG(代表型号 D717MG)是 HORIBA STEC 面向优良半导体工艺推出的压力非敏感型数字质量流量控制器,为 D500MG 升级兼容产品,归属 CRITERION 平台。

采用基于压力测量控制架构,不受上下游压力波动干扰;原生支持 EtherCAT 工业以太网,支持设备端在线灵活配置参数,广泛应用晶圆刻蚀、ALD/CVD、薄膜沉积、离子注入等工艺气体精准输送。

2. 核心优势特点

✅ EtherCAT 在线灵活组态

支持机台端直接更改气体种类、全量程参数,无需返厂标定,极大方便工艺研发与多产品共线生产,提升制程优化灵活性。

✅ 极速动态响应

建立时间≤100ms,实现多台 MFC 之间流量偏差精准抑制,提升工艺均匀性与产能。

✅ MRMG 小流量增强功能(Bin101~Bin105)

拓宽下限可控区间,兼顾高低流量工艺需求,一台设备适配更多制程窗口。

✅ PFA 材质喷嘴

优异阀门截止性能,耐腐蚀性更强;降低微粒产生风险,减少腔体污染、意外停机,提升晶圆良率。

✅ 内置完整状态监控系统

持续采集阀参数、压力、温度等运行数据,支撑远程诊断、预测性维护,推进智能 fab 运维。

3. 关键性能规格(D717MG)

流量量程档位:

① 10 SCCM~10 SLM

② 5 SCCM~5 SLM

③ 5 SCCM~1 SLM

控制区间:0.2~100% F.S/ 0.5~100% F.S/ 2~100% F.S(依量程区分)

阀结构:常闭型压电执行器

建立时间:≤100ms

精度(25℃):±1% SP / ±0.05~0.5% FS(分段)

重复精度:±0.3% SP

泄漏指标:<0.02~0.1% F.S 或 0.015SCCM (N₂),取较大值

润湿材质:SUS316L、镍合金、PFA

检漏标准:≤5×10⁻¹² Pa・m³/s (He)

工作温度:15~45℃

4. 型号定位说明

D700MG 是 D500MG引脚 / 安装尺寸向上兼容换代产品,客户现有设备可实现低成本替换升级,无需大幅修改机械与控制程序。

5. 典型应用场景

逻辑、存储芯片干法刻蚀工艺

ALD、CVD、PVD 薄膜沉积制程

化合物半导体、碳化硅器件制造

离子注入、清洗、退火设备工艺气配比

优良面板、光学薄膜气相工艺



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