Yamada山田光学玻璃基板划伤缺陷检查灯 本装置用于半导体晶圆及液晶基板在制程中最耗时、最依赖人工的“最终表面”宏观检查，可快速发现异物、划痕、研磨不均、雾斑、滑移等各类缺陷。 凭借高照度照明，可识别表面小至 0.2 μm 的微小颗粒。

日本yamada山田光学光掩膜缺陷卤素检查灯 本装置用于半导体晶圆及液晶基板在制程中最耗时、最依赖人工的“最终表面”宏观检查，可快速发现异物、划痕、研磨不均、雾斑、滑移等各类缺陷。

Yamada山田光学0.2μm微小颗粒识别卤素灯 本装置用于半导体晶圆及液晶基板在制程中最耗时、最依赖人工的“最终表面”宏观检查，可快速发现异物、划痕、研磨不均、雾斑、滑移等各类缺陷。

Yamada山田光学洁净室晶圆检测卤素光源 高亮度卤素光源装置是洁净室内半导体晶圆表面品质管理的工具，凭借高照度照明，可识别表面小至 0.2 μm 的微小颗粒。

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日本P.R.A.半导体静电卡盘用高压ESC电源 电极附近出现反极性电荷，陶瓷表面则感应出同极性电荷。当硅片靠近时，片内诱导电荷与表面电荷相互吸引，产生吸附力。吸力大小与表面电荷量成正比，而电荷量由高压电源精确控制。

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日本lightest汽车涂装划痕色差检查点光源 点光源高指向性，微小划痕也能放大可见 高亮度、均匀照度，约60°宽照射角 无需透镜的革新专用灯 标配1/4英寸相机螺丝，可安装于三脚架，固定照射简单