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技术文章/ Technical Articles

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  • 2026

    6-30

    一、产品基础架构与核心光学设计日本HAYASHIREPIC(林雷皮克)LuminaAce系列LA-100IR是一款定向输出800~1100nm近红外波段的专用卤素光源设备,整机采用分体式光路与电控集成一体化结构,设备外形尺寸长231mm、宽115mm、高度130mm,底部支撑脚预留12mm安装间隙,兼顾桌面摆放与工装固定需求。设备正面集成光路输出接口、电源开关、灯泡状态指示灯与无级光量调节旋钮,背部布局散热格栅、安全警示标识与供电接线端子,侧面预留调光与外部联动接口,整体机械...

  • 2026

    6-29

    一、产品定位:合规级超长行程多功能物性分析旗舰机型日本株式会社太阳科学(SUNSCIENTIFIC)CR-3000EX-L是CR-3000EX系列加长行程旗舰款全自动流变测定系统,整机适配日本消费者厅吞咽困难食品检测规范、全系列JIS日本工业材料标准,面向食品、医药、日化、新材料研发与合规质检打造,解决常规150mm行程质构仪无法容纳大尺寸试样的检测痛点。设备采用分体式独立控制主机+立式加长检测机架结构,控制部尺寸W180×D145×H165,检测部W180×D390×H56...

  • 2026

    6-29

    一、产品定位:全合规多功能台式物性分析旗舰机型日本株式会社太阳科学(SUNSCIENTIFIC)推出的sunRHEOMETERCR-3000EX-S,是面向食品、医药、日化、新材料行业研发的全自动化台式流变仪,整机适配日本消费者厅吞咽困难食品检测规范、JIS日本工业标准,可完成拉伸、压缩、剪切、摩擦多维度力学试验,填补简易型质构仪功能单一、无法满足研发与合规质检的短板。设备采用分体式控制+立式检测双机身结构,控制部尺寸W180×D145×H165,检测部W175×D400×H...

  • 2026

    6-29

    一、产品定位:轻量化单压缩型现场专用物性检测设备日本株式会社太阳科学(SUNSCIENTIFIC)推出的sunRHEOTEXSD-700II简易型物性测定器,是专为现场质检、小型实验室、多工况移动式检测打造的紧凑型质构分析设备,区别于同品牌CR系列全功能流变仪,该机聚焦单向压缩力学测试,剔除拉伸模块,精简硬件结构,同时保留标准化测量程序,兼顾便携性与检测精度。整机采用一体化手提式机身设计,整机尺寸W210×D180×H280,体积小巧可放置于工作台、运输推车,甚至船舶、车间恶...

  • 2026

    6-29

    一、产品研发定位:全温域光纤式红外测温标准化设备日本レック(LEC)株式会社推出的L-1000系列光纤红外测温仪,是面向高温工业产线、实验室热分析场景的非接触式温度检测设备,依托企业“先进技术构筑测量与控制未来”的研发理念,采用光纤分光传感架构,突破传统红外测温仪无法穿透玻璃、高温探头易损坏、测温区间窄的行业痛点。该系列分为标准L-1000分体式套装与L-1000V一体化套装两类硬件配置,完整测温区间覆盖140℃~3000℃,双感光芯片选型(InGaAs/硅Si)可适配低温中...

  • 2026

    6-29

    一、产品基础定位:紧凑型高精度JIS标准物性分析仪器日本株式会社太阳科学(SUNSCIENTIFIC)推出的CR-100型sunRHEOMETER流变仪,是一款面向食品、医药、化妆品、轻工多行业的紧凑型物性力学检测设备,整机设计匹配日本消费者厅吞咽困难食品检测规范,同时满足全系列JIS日本工业材料检测标准,是软质、半固态、小型固体样品质地量化分析的标准化专业仪器。设备采用分体式模块化结构,分为控制主机与立式检测机架两大单元,控制单元尺寸180×220×260mm,检测测试机架...

  • 2026

    6-26

    日本物性测试仪在全球物性检测设备竞争中,凭借深厚的技术积淀与细节打磨,形成了难以复制的核心优势,从检测精度、适配广度到操作体验,*方位满足多行业对物性检测的严苛需求,成为品质把控的可靠利器。1.超高的检测精度,是日本物性测试仪的核心竞争力。其搭载高精度压力传感器,测量精度可达0.01N,能精准捕捉物性的细微变化,即便是食品口感的细微差异、药品硬度的微小波动,都能被精准识别,避免因精度不足导致的品质误判。这种极*的精度,源于日本精密制造技术的支撑,传感器与传动系统长期使用仍保持...

  • 2026

    6-25

    NAPSON纳普森株式会社作为日本专注电阻率、方块电阻检测仪器研发制造的专业厂商,深耕涡流非接触检测技术多年,针对半导体晶圆、光伏硅片、新型导电新材料的无损电学检测需求,推出EC-80P-PN台式无损方块电阻测试仪,同时支持方块电阻、电阻率双参数同步检测,解决传统接触式检测划伤试样、量程覆盖窄、多层半导体结构测量失真等行业痛点,是半导体、新能源、功能薄膜研发与量产质检环节的标准化高精度检测设备。下文从硬件结构、涡流无损检测机理、分级量程体系、多品类样品适配、人机交互系统、全产...

  • 2026

    6-25

    一、产品研发背景:双模式集成便携测阻设备的技术突破作为日本专注电阻率、方块电阻测量仪器研发制造的专业厂商,NAPSON针对薄膜行业检测场景中“无损成品检测”与“高精度研发标定”无法兼顾的行业痛点,推出Duores手持式两用片电阻测量仪,是支持两种测量探头自由切换的便携式方块电阻检测设备。传统薄膜检测设备普遍存在功能单一缺陷:台式四探针仪器测量精度高但体积庞大、无法移动,且接触式检测会划伤完整成品;单一涡流无损设备无需接触样品,却存在测量量程窄、微小样品无法检测的局限。Duor...

  • 2026

    6-22

    一、多纯度梯度烧结工艺:HD与SSA两大产品线材质底层区分逻辑日陶氧化铝研磨珠划分为HD通用系列与SSA高纯系列两大产品矩阵,核心差异源于氧化铝原料纯度、烧结致密化工艺与晶界改性配方,从微观晶体层面决定硬度、磨耗、杂质析出三大核心性能。HD系列采用92%~93%中低纯度氧化铝粉体,低温共烧引入硅酸盐玻璃相作为烧结助剂,生产成本更低,但晶间玻璃相在强冲击、酸碱浆料下易溶出,适合低污染要求的通用工业场景;SSA全系列选用99.5%、99.9%超高纯α氧化铝原料,无玻璃相助剂,通过...

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